一种表贴芯片共面性检查装置
授权
摘要
本实用新型提供的表贴芯片共面性检查装置，包括基座1和高度块2，其中：基座1上设置有凹槽，所述凹槽一侧的基座1上表面为芯片放置面；高度块2为长方体，用于放置在基座1上的凹槽内，高度块2的高度为第一高度，基座1上的凹槽的高度为第二高度，所述第一高度大于所述第二高度。
基本信息
专利标题 ：
一种表贴芯片共面性检查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921456411.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-03
授权号 ：
CN210718934U
授权日 ：
2020-06-09
发明人 ：
郭影申思文
申请人 ：
中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市雁塔区锦业路129号
代理机构 ：
中国航空专利中心
代理人 ：
卫媛媛
优先权 ：
CN201921456411.6
主分类号 ：
G01B5/06
IPC分类号 ：
G01B5/06 G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2020-06-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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