一种智能卡芯片用功能测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种智能卡芯片用功能测试装置,包括步进式传送带、功能检测机构以及支撑平台,所述步进式传送带的上部表面固定连接有等间距设置的限位槽,所述承载板包括有铁皮框,所述限位槽的一侧固定嵌装有用于吸合铁皮框的永磁铁;所述固定板的上部固定安装有用于显示检测结果的显示屏,所述固定板的下部表面通过第一气缸连接有探测板,所述探测板的下部表面设置有检测探针;所述第二气缸的一端固定连接有推拉板,所述推拉板的一侧嵌装有电磁铁。本实用新型通过设置的步进式传送带,利用在线一步一步进行多项功能检测,在出现异常不合格时及时利用电磁铁吸走附带产品的承载板,脱离线体,便于将不合格品的分类收集。

基本信息
专利标题 :
一种智能卡芯片用功能测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921467824.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-04
授权号 :
CN210775746U
授权日 :
2020-06-16
发明人 :
冯学裕
申请人 :
上海诚天智能卡有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区周浦镇建韵路399号8幢1-3楼
代理机构 :
深圳市正德知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
周善勇
优先权 :
CN201921467824.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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