一种芯片功能测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片功能测试装置，包括被测芯片、键盘输入单元、功能检测IC芯片Cyclone Ⅱ和集成块型号显示单元；被测芯片安装在集成块管座上；键盘输入单元与IC芯片Cyclone Ⅱ相连接，IC芯片Cyclone Ⅱ分别与被测芯片和集成块型号显示单元相连接；键盘输入单元为键盘矩阵，用于输入被测芯片的型号，包括键盘上11个按键S1、S2、S3、S4、S5、S6、S7、S8、S9、S10和S11，分别对应0—9数字以及一个确认键；集成块型号显示单元包括三极管Q0、Q1和Q2以及三位数的LED数码管。本实用新型的技术方案成本低，可在线编程，能够随时增加被测试芯片的种类，提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片功能测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020820880.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-18
授权号 ：
CN212646894U
授权日 ：
2021-03-02
发明人 ：
郑江云
申请人 ：
安庆师范大学
申请人地址 ：
安徽省安庆市集贤北路1318号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020820880.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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