本实用新型提供一种SOC芯片功能测试板，其结构由主板和芯片固定装置组成，芯片固定装置与主板连接并固定在主板上；芯片固定装置由活动内盖、中轴、中轴孔、挂钩、限位柱、引脚、内盖支撑、外盖组成，中轴穿过活动内盖上的中轴孔并固定在外盖的侧面上，活动内盖的四周设置有内盖支撑，挂钩设置在外盖的侧面，芯片固定装置内表面上设置有限位柱和具有等引脚间距的电子零件，本实用新型不需费力的将芯片焊接到主板上即可进行测试，避免了因通常测试手段而对芯片造成损坏和测试效率低下的缺点，该实用新型和现有技术相比，具有设计合理、使用方便等特点，因而，具有很好的推广使用价值。