一种波形测试探针装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种波形测试探针装置，包括支架、驱动单元、测试单元和平台单元；所述驱动单元包括设置在支架上的测试驱动源和升降块，所述升降块与测试驱动源的自由端连接；所述测试单元包括设置在升降块上的测试支架，所述测试支架上设置有立板，所述立板上滑动设置有两块绝缘板，且其并排，所述绝缘板和测试支架之间设置有弹性件，所述绝缘板的顶端设置有探针；所述平台单元包括设置在支架上的平台支架，所述平台支架上设置有绝缘测试平台，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，两根所述探针分别插入一个测试孔内。其能够从底部测试元器件，测试效率高，测试数据稳定，可靠性强。

基本信息

专利标题：

一种波形测试探针装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921495839.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-10

授权号：

CN211293004U

授权日：

2020-08-18

发明人：

胡凤鸣黄向阳王海红梁海伟

申请人：

苏州鸣动智能设备有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市吴江区吴江经济技术开发区益胜路183号

代理机构：

北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

陈娟

优先权：

CN201921495839.1

主分类号：

G01R1/067

IPC分类号：

G01R1/067