一种探针保护装置及测试设备

授权

摘要

本实用新型公开了一种探针保护装置及测试设备，其属于电子产品测试技术领域，探针保护装置包括保护结构，设有多个第一通孔；连接结构，一端与所述保护结构固定连接；滑动结构，所述滑动结构设有多个第二通孔和多个第三通孔，并通过第二通孔套设于所述连接结构上，所述第三通孔与所述第一通孔同轴设置，且所述第三通孔用于供探针穿过；所述滑动结构被配置为能够沿所述连接结构轴向滑动，且当所述滑动结构滑动至第一位置时，所述第三通孔中所述探针的连接针头能够从所述第一通孔中穿出。本实用新型提供的探针保护装置和测试设备降低了因连接针头暴露在外面而发生变形的风险，延长了探针的使用寿命，降低了产品测试的成本。

基本信息

专利标题：

一种探针保护装置及测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922065186.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-11-26

授权号：

CN211235951U

授权日：

2020-08-11

发明人：

杨鹏张轲徐壮

申请人：

立讯智造（浙江）有限公司

申请人地址：

浙江省嘉兴市嘉善县姚庄镇刘河路66号1幢

代理机构：

北京品源专利代理有限公司

代理人：

胡彬

优先权：

CN201922065186.X

主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/073