一种气氛条件可调的光谱测量系统

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摘要

本实用新型公开了一种气氛条件可调的光谱测量系统，主要解决现有光谱分析仪器适用范围有限，难以满足多样化测量的问题。该光谱测量系统包括中控单元，以及通过信号线缆与中控单元相连的气体注入系统、真空光学分析室、分析室真空获取单元、探测光路系统和收集光路系统。本实用新型通过将真空系统与光学系统相结合，实现了对被测量对象的气氛条件的选择性调节和控制，能够完全排除空气对光谱分析的干扰，满足需要特性气氛条件下对特定物质的分析，还能适用于高活性、毒性、放射性或其他有害性物质分析；提升了光谱测量系统的测量能力和扩展了测量适用范围。因此，适于推广应用。

基本信息

专利标题：

一种气氛条件可调的光谱测量系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922152078.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-04

授权号：

CN211318171U

授权日：

2020-08-21

发明人：

杨蕊竹李强吴吉良叶小球陈长安饶咏初冯春蓉王雪峰严俊

申请人：

中国工程物理研究院材料研究所

申请人地址：

四川省绵阳市江油市华丰新村9号

代理机构：

成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

王育信

优先权：

CN201922152078.6

主分类号：

G01N21/25

IPC分类号：

G01N21/25