一种高压大电流滤波器老化测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种高压大电流滤波器老化测试系统，所述测试系统与被测滤波器相连；所述测试系统包括电压控制器装置、高压试验变压器装置和电流试验变压器装置；外接电源与所述电压控制器装置相连，所述电压控制装置与所述高压试验变压器装置相连，所述高压试验变压器装置与所述被测滤波器相连；或者，所述外接电源与所述电流试验变压器装置相连，所述电流试验变压器装置与所述被测滤波器相连。优点是：测试系统针对高压大电流滤波器在研发过程中的可靠性和寿命测试需求而研制，用于为滤波器样品提供一个持续的工作电压或工作电流的运行环境；且测试系统轻巧便携，能够在不同地点对不同测试样品进行安全的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种高压大电流滤波器老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922307345.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-19
授权号 ：
CN211348515U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
孙京海甘恒谦斯可克
申请人 ：
中国科学院国家天文台
申请人地址 ：
北京市朝阳区大屯路甲20号
代理机构 ：
北京市盛峰律师事务所
代理人 ：
于国强
优先权 ：
CN201922307345.2
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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