一种光谱共焦测量系统
授权
摘要

本实用新型提供了一种光谱共焦测量系统,采用线光源进行光谱共焦测量,使用色散透镜组对线光源进行成像,一次性获得一条共焦线上所有点的位置信息和高度信息,只需要再进行一维的扫描就可获得整个被测物体表面的位置和高度信息,从而实现高精度的快速物体表面位置和高度的测量。并且本实施例中利用了光路可逆原理,使用共轴系统,让光线从被测物体反射回色散透镜组,再次聚焦进入光谱仪进行数据分析,其中的色散透镜组被重复利用,有效的减少了成本和系统体积,因此本实用新型具有高效率和低成本的特点。

基本信息
专利标题 :
一种光谱共焦测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922344191.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-23
授权号 :
CN211012841U
授权日 :
2020-07-14
发明人 :
黄凯王国安郑泽鹏黄碧华周飞吴伟锋孙久春
申请人 :
海伯森技术(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道南昌社区航城大道华丰国际机器人产业园E栋一层
代理机构 :
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘文求
优先权 :
CN201922344191.4
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/06  G01B11/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-07-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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