曲线图形光学邻近修正方法
授权
摘要

本发明提供了一种曲线图形光学邻近修正方法,在对导入的原始设计图形进行光学邻近修正后,对曲线图形进行填充拟合处理以形成标准图形;所述填充拟合处理的步骤包括:在包含所述曲线图形的边线的设定区域内排布标准填充图形的阵列;将与所述曲线图形相交的所述标准填充图形作为填充拟合图形,所述填充拟合图形具有与所述曲线图形重叠的重叠部分以及与所述曲线图形不重叠的非重叠部分;通过使所述曲线图形合并所述非重叠部分或去除所述重叠部分,形成所述标准图形。本发明通过对硅光器件的曲线图形进行填充拟合处理,以形成标准图形,使版图图形符合常规光掩模版标准,在确保光学邻近修正结果接近原始图形的同时,降低光掩膜版生产成本。

基本信息
专利标题 :
曲线图形光学邻近修正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111367148A
申请号 :
CN202010279739.6
公开(公告)日 :
2020-07-03
申请日 :
2020-04-10
授权号 :
CN111367148B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
陈世杰黄增智郭进
申请人 :
联合微电子中心有限责任公司
申请人地址 :
重庆市沙坪坝区重庆市沙坪坝西园一路28号附2号
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
余明伟
优先权 :
CN202010279739.6
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  G03F1/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2022-04-12 :
授权
2020-07-28 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G03F 7/20
申请日 : 20200410
2020-07-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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