一种半导体激光器的检测系统及检测方法
授权
摘要

本发明公开了一种半导体激光器的检测系统及方法,半导体激光器包括由壳体所形成的收容腔以及半导体激光发射芯片,在半导体激光发射芯片的供电引脚与电源输入端之间串接不可恢复的异常供电保护单元,异常供电保护单元用于在电源输入端输入的电压或者电流异常时,自动断开供电,且电源输入端后续输入的电压和电流正常时,无法恢复供电状态;收容腔内部固定安装有不可逆的热敏变色片,热敏变色片在所述收容腔内环境的温度高于预设温度时变色,且在收容腔内环境的温度高于预设温度时变色,且在收容腔内环境的温度后续恢复到预设温度范围内,依然保持变色后的颜色;收容腔内设置有湿度传感器,以检测和保存收容腔内环境的湿度数据。

基本信息
专利标题 :
一种半导体激光器的检测系统及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112098046A
申请号 :
CN202011006373.1
公开(公告)日 :
2020-12-18
申请日 :
2020-09-21
授权号 :
CN112098046B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
周少丰尹晓峰蒙剑
申请人 :
深圳市星汉激光科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区福海街道新和社区蚝业路39号旭竟昌工业园厂房B4栋5层
代理机构 :
深圳市沈合专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
沈祖锋
优先权 :
CN202011006373.1
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  G01R31/00  G01R31/26  G01N33/00  G01K11/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-06-07 :
授权
2021-01-26 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01M 11/00
变更事项 : 申请人
变更前 : 深圳市星汉激光科技有限公司
变更后 : 深圳市星汉激光科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市宝安区福海街道新和社区蚝业路39号旭竟昌工业园厂房B4栋5层
变更后 : 518000 广东省深圳市宝安区福海街道新和社区蚝业路39号旭竟昌工业园厂房B4栋5层
2021-01-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20200921
2020-12-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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