一种铌酸锂薄膜波导的湿法刻蚀方法及铌酸锂薄膜波导
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摘要

本申请提供一种铌酸锂薄膜波导的湿法刻蚀方法及铌酸锂薄膜波导。所述方法包括:在铌酸锂薄膜样品中的铌酸锂层表面正畴区域上制备具有预设刻蚀形状的金属掩膜后,将具备金属掩膜的待极化铌酸锂薄膜样品接入极化电路,对金属掩膜覆盖区域的铌酸锂进行畴翻转,使得金属掩膜覆盖区域由正畴翻转为负畴,利用预设夹具固定住畴翻转后的铌酸锂薄膜样品,并去除表面的金属掩膜后,利用刻蚀溶液对畴翻转后样品的表面区域进行预设时长的刻蚀,得到铌酸锂薄膜波导。整个过程利用正负畴的腐蚀速度差异制备铌酸锂薄膜波导,可以较好地控制刻蚀侧壁的宽度和质量,制备的波导刻蚀侧壁较为光滑,波导损耗较低。

基本信息
专利标题 :
一种铌酸锂薄膜波导的湿法刻蚀方法及铌酸锂薄膜波导
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112269225A
申请号 :
CN202011106942.X
公开(公告)日 :
2021-01-26
申请日 :
2020-10-16
授权号 :
CN112269225B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
尹志军崔国新叶志霖许志城
申请人 :
南京南智先进光电集成技术研究院有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦690室
代理机构 :
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
逯长明
优先权 :
CN202011106942.X
主分类号 :
G02B6/136
IPC分类号 :
G02B6/136  G02B6/138  G02B6/122  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B6/00
光导;包含光导和其他光学元件的装置的结构零部件
G02B6/10
光波导式的
G02B6/12
集成光路类型
G02B6/13
以制作方法为特征的集成光路
G02B6/136
用蚀刻法
法律状态
2022-04-01 :
授权
2021-02-12 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 6/136
申请日 : 20201016
2021-01-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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