半导体结构的形成方法
实质审查的生效
摘要

一种半导体结构的形成方法,包括:提供基底,基底上形成有待刻蚀材料层,待刻蚀材料层上形成若干相互分立的牺牲层,相邻牺牲层之间具有第一开口;在第一开口底部和侧壁表面、牺牲层顶部表面形成侧墙材料层;在侧墙材料层表面形成保护层;在保护层上形成第一图形化层,第一图形化层内具有第一图形化开口,第一图形化开口暴露出其中一个或多个第一开口;在暴露出的第一开口内形成阻挡层,阻挡层的顶部表面低于牺牲层的顶部表面;去除保护层;去除第一开口底部表面和牺牲层顶部表面的侧墙材料层;去除牺牲层,在剩余侧墙材料层之间形成第二开口。本发明提高了图形传递的稳定性和精度,从而提高了半导体结构的性能。

基本信息
专利标题 :
半导体结构的形成方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114446781A
申请号 :
CN202011197598.X
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-10-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘睿
申请人 :
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区张江路18号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
吴敏
优先权 :
CN202011197598.X
主分类号 :
H01L21/308
IPC分类号 :
H01L21/308  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18
器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体,如掺杂材料
H01L21/30
用H01L21/20至H01L21/26各组不包含的方法或设备处理半导体材料的
H01L21/302
改变半导体材料的表面物理特性或形状的,例如腐蚀、抛光、切割
H01L21/306
化学或电处理,例如电解腐蚀
H01L21/308
应用掩膜的
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/308
申请日 : 20201030
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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