一种低表面浓度发射极的制备方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种低表面浓度发射极的制备方法。具体为对炉管内的硅片进行沉积处理,然后对硅片进行第一次升温推进处理;推进处理完成后分别利用链式HF溶液和混酸对硅片的掺杂表面进行清洗,然后对硅片进行第二次升温推进,最后对经过第二升温推进的硅片进行高温氧化处理并对硅片出管,得到制备有低表面浓度发射极的硅片。本实施例中的沉积和推进过程属于无限表面源,在硅片未进行高温氧化前,通过混酸处理提前去除掺杂面的BSG,通过再次升温推进继而氧化,使得再分布过程有限源的处理加强,得到更优的浓度分布曲线的低表面浓度的发射极,且在此处理过程中高温氧化无需过长时间,从而避免了长时间高温氧化对硅片体的寿命的不利影响。

基本信息
专利标题 :
一种低表面浓度发射极的制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114497270A
申请号 :
CN202011255996.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2020-11-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李家栋刘勇朴松源
申请人 :
一道新能源科技(衢州)有限公司
申请人地址 :
浙江省衢州市绿色产业集聚区东港片区百灵南路43号
代理机构 :
北京润泽恒知识产权代理有限公司
代理人 :
莎日娜
优先权 :
CN202011255996.2
主分类号 :
H01L31/18
IPC分类号 :
H01L31/18  H01L31/0224  
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 31/18
申请日 : 20201111
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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