一种基于双光谱角的波段聚类选择方法
公开
摘要

本发明涉及图像分析领域,尤其涉及一种基于双光谱角的波段聚类选择方法。所述方法为:对样本图片进行预处理,得到目标像素分辨率的高光谱图像;根据背景与中心元素的空间相关性和光谱相关性构建双光谱角特征,对原始特征和双光谱角特征进行计算;利用原始特征和双光谱角特征分别进行聚类;根据关联函数对聚类结果进行优化,使熵函数最小,迭代聚类结果区域稳定后结束,得到最终波段选择结果。本发明兼顾像素间的空间相关性和波段间的光谱相关性,在不牺牲物理属性信息的前提下高效表征高光谱图像的有效特征,降低后续数据处理的计算量。

基本信息
专利标题 :
一种基于双光谱角的波段聚类选择方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114580488A
申请号 :
CN202011390102.0
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2020-12-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周阳高阳常虹董斐
申请人 :
北京航天计量测试技术研究所
申请人地址 :
北京市丰台区南大红门路一号
代理机构 :
核工业专利中心
代理人 :
蔡丽
优先权 :
CN202011390102.0
主分类号 :
G06K9/62
IPC分类号 :
G06K9/62  G06V10/762  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
G06K9/62
应用电子设备进行识别的方法或装置
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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