一种TO-3P封装元件的波形测试机构
授权
摘要
本实用新型提供了一种TO‑3P封装元件的波形测试机构,包括:机架、供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构,供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构固定安装在机架上,供料管放置在供料机构上,供料管内的元件运输方向依次为供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构。本实用新型提供的一种TO‑3P封装元件的波形测试机构,对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类,大大提高元件的检测与分类效率。
基本信息
专利标题 :
一种TO-3P封装元件的波形测试机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020359123.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-20
授权号 :
CN212905174U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
吴习山沈向辉
申请人 :
太仓市晨启电子精密机械有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市太仓市浮桥镇牌九路西侧、新浦河北侧
代理机构 :
苏州瑞光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
罗磊
优先权 :
CN202020359123.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R31/26 G01R13/00 H01L21/67 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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