一种TO-3P封装元件的波形测试机构
授权
摘要
本实用新型提供了一种TO‑3P封装元件的波形测试机构，包括：机架、供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构，供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构固定安装在机架上，供料管放置在供料机构上，供料管内的元件运输方向依次为供料机构、换向机构、测试机构和收纳机构。本实用新型提供的一种TO‑3P封装元件的波形测试机构，对进行波形测试的元件利用机器视觉代替人工进行分类，大大提高元件的检测与分类效率。
基本信息
专利标题 ：
一种TO-3P封装元件的波形测试机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020359123.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-20
授权号 ：
CN212905174U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
吴习山沈向辉
申请人 ：
太仓市晨启电子精密机械有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市太仓市浮桥镇牌九路西侧、新浦河北侧
代理机构 ：
苏州瑞光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗磊
优先权 ：
CN202020359123.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/26 G01R13/00 H01L21/67 B07C5/344
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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