电子元件封装的制造方法以及电子元件封装
授权
摘要
本发明提供一种电子元件封装及其制造方法,通过将盖部件(3)与基底部件(2)接合,在基底部件与盖部件之间的内部空间(61)中配置与盖部件(3)相接的内部电极(51)以及与内部电极连接的电子元件(41)。然后,从盖部件的与基底部件相反一侧的面(31)通过规定方法实施蚀刻,从而形成到达内部电极的表面的贯通孔(32),向贯通孔添加导电性材料,并在面上形成与内部电极连接的外部电极,从而完成了薄型的电子元件封装(1)。
基本信息
专利标题 :
电子元件封装的制造方法以及电子元件封装
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101107706A
申请号 :
CN200680003073.X
公开(公告)日 :
2008-01-16
申请日 :
2006-01-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
东和司前川幸弘
申请人 :
松下电器产业株式会社
申请人地址 :
日本大阪府
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
汪惠民
优先权 :
CN200680003073.X
主分类号 :
H01L23/02
IPC分类号 :
H01L23/02
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/02
容器;封接
法律状态
2009-09-16 :
授权
2008-03-05 :
实质审查的生效
2008-01-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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2、
CN100541767C.PDF
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