一种芯片检测用载片台
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片检测用载片台，包括板体，板体上设置有定位凸台，位于定位凸台两侧的板体上均设置有压板机构，压板机构包括第一压板和第二压板，第一压板通过第一销轴和板体相铰接，第二压板通过第二销轴和板体相铰接。本实用新型能够有效避免芯片位置的偏移，大大提高了芯片的定位可靠性和稳定性，提高了芯片检测效果。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测用载片台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020424940.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN212341372U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
刘静吴正
申请人 ：
芯冠（苏州）半导体有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区唯亭双泾街59号
代理机构 ：
苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
沈彬彬
优先权 ：
CN202020424940.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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