一种芯片检测用载片台
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片检测用载片台，属于芯片检测技术领域，目前的载片台对芯片的水平方向缺乏定位和固定，在检测中，容易导致芯片产生水平偏移，使得检测位置出现改变，存在检测误差，本方案包括台体，台体的顶面开有多个调节槽，调节槽内滑动卡接滑块，滑块远离台体外壁的一端顶部固定安装定位柱，定位柱远离滑块的一端安装夹紧机构，滑块靠近台体外壁的一端与调节槽间安装锁定机构。滑块沿调节槽滑动，并通过锁定机构快速固定，从而调节定位柱的间距，使得定位柱贴合芯片的四周外壁，达到水平方向的定位和限位，然后夹紧机构对芯片竖向进行压紧，实现芯片的完全定位和固定，确保检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测用载片台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122932399.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-26
授权号 ：
CN216485382U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
徐恩
申请人 ：
苏州英诺飞芯工业科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区经济开发区南官渡路521号5幢405室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122932399.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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