一种芯片检测用工作台
授权
摘要
本实用新型涉及芯片检测技术领域,尤其涉及一种芯片检测用工作台,包括箱体,所述箱体的上端面与外部连通,箱体的上端面通过螺钉水平安装固定有通风板,箱体内底壁的中部通过螺钉安装固定有电机,电机的输出端通过联轴器安装固定有旋转轴,旋转轴的两侧对称焊接有扇叶,通风板的上端面开设有凹槽,且凹槽内胶合固定有橡胶块,通风板的上端面通过螺钉安装固定有中央控制器,中央控制器的一侧设置有测试模块。本实用新型中,通过在此芯片检测用工作台中通过设置中央控制器控制风扇的电机和检测模块,芯片测试结束后,中央控制器打开电机,开启风扇可以对检测模块进行很好的降温,提高了芯片的生产效率。
基本信息
专利标题 :
一种芯片检测用工作台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020557282.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-15
授权号 :
CN212031663U
授权日 :
2020-11-27
发明人 :
朱延政
申请人 :
江苏止芯科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市秦淮区永智路6号南京白下高新技术产业开发区四号楼A栋1104-4室
代理机构 :
北京盛凡智荣知识产权代理有限公司
代理人 :
商祥淑
优先权 :
CN202020557282.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 B25H1/02 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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