一种芯片测试工作台
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试工作台，包括支座和多个驱动下压部；多个驱动下压部并列安装在所述支座上；驱动下压部的下端连接有串口面板，串口面板接有芯片测试串口，串口面板的下方设有芯片固定件，芯片固定件设有固定槽，串口面板的两侧分别设有用于避免所述串口面板上下运动产生偏移的伸缩杆，伸缩杆的末端与支座连接。通过伸缩杆限定串口面板上下运动过程中的路径，避免串口面板在上下过程中产生偏移而使芯片测试串口没有准确对准芯片的对应测试端口，进而提高测试的准确率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试工作台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920889913.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-13
授权号 ：
CN210572598U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
杨毅赵泽军高全保胡鸿鹄李泽阳
申请人 ：
杭州第九区科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区滨安路1197号4幢522室
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
谭晓欣
优先权 ：
CN201920889913.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
