一种试验老化用测试板
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摘要

本实用新型公开了一种试验老化用测试板,涉及试验板技术领域,包括测试板,所述测试板的底部固定连接有支撑座,所述测试板的表面底端固定连接有固定座,所述固定座的顶端两侧均固定连接有固定块,所述固定块的内侧固定连接有压缩弹簧,压缩弹簧远离固定块的一端固定连接有活动块,活动块与固定座滑动连接,固定座的上方设有滑轨,所述滑轨的两端均固定连接有支撑柱,支撑柱的底端与测试板固定连接。该试验老化用测试板,通过固定座、固定块、活动块和压缩弹簧之间的配合设置,不仅结构简单,而且方便装夹待测样品,省时省力,提高了工作效率,便于调节两个导体的纵向高度和横向位置,便于检测不同型号的待测样品,提高了装置的试验范围。

基本信息
专利标题 :
一种试验老化用测试板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020565729.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-16
授权号 :
CN212675044U
授权日 :
2021-03-09
发明人 :
章建青
申请人 :
江西新四季科技有限公司
申请人地址 :
江西省九江市濂溪区濂溪大道699号
代理机构 :
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
胡吉科
优先权 :
CN202020565729.4
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-03-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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