一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器
授权
摘要
本实用新型涉及X射线检测仪器的技术领域,尤其是涉及一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器。一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器,包括X射线发生装置、X射线收束装置、探测装置、移动装置及分析处理数据信息的计算机,所述探测装置包括至少两个探测器,所有探测器的探测面与X射线收束装置的射出焦点之间的距离相等。X射线发生装置产生X射线,产生的X射线通过X射线收束装置收束形成小焦斑。X射线照射样品后产生的荧光数据被探测器采集发送到计算机进行分析。通过设置多个探测器来增加探测面积和计数率,同时探测器的死时间并不会增加,实现高精度且高效率的扫描。
基本信息
专利标题 :
一种多探测器的X射线荧光微区扫描仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020646943.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-25
授权号 :
CN212207172U
授权日 :
2020-12-22
发明人 :
刘明博赵雷胡学强杨博赞
申请人 :
钢研纳克检测技术股份有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区高梁桥斜街13号
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
赵万凯
优先权 :
CN202020646943.2
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223 G01N23/2204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-12-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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