本实用新型涉及一种压电型力敏芯片测试夹具，包括夹具收集盒及与夹具收集盒相匹配的夹具基座，所述夹具收集盒为长方料盒，其中一个侧面呈贯通设置，所述夹具基座的上表面开设有载片槽，所述载片槽的底部设置有隔离区，所述载片槽内配合连接有压电型力敏单元，所述载片槽的顶部边缘处设置有多个紧固件，通过设置有夹具收集盒及夹具基座，夹具收集盒用于存储测试夹具，压电型力敏芯片测试后通过夹具基座放置在夹具收集盒中，使得很装置同时具备测试和存储功能，降低测试与存储拆装次数导致的碎片和裂片，隔离区为载片区中的镂空部分，隔离区尺寸与压电型力敏芯片的力敏结构相匹配，使得装置能有效隔离力敏结构的振动干扰大大提高装置的实用性。