自动化测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种自动化测试系统，用于对半导体器件的引脚进行测试，自动化测试系统包括：数字电桥模块和控制模块；数字电桥模块的输入端，与半导体器件的引脚连接，用于检测半导体器件引脚的结电容；数字电桥模块的输出端与控制模块的输入端连接，以将半导体器件引脚的结电容同步给控制模块；控制模块，用于根据获取的半导体器件引脚的结电容，确定半导体器件的引脚是否损伤。该自动化测试系统能够通过数字电桥模块，检测半导体引脚的结电容，实现半导体器件引脚的非功能性的微损伤测试，且提高了测试效率，有利于保证半导体器件的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
自动化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021129984.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212569021U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
陈冬冬
申请人 ：
合肥移瑞通信技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区习友路3335号中国(合肥)国际智能语音产业园A区1号中试楼6楼
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王佳璐
优先权 ：
CN202021129984.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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