一种钴尖晶石晶体的导电测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种钴尖晶石晶体的导电测试装置,包括底座、工作台和放置台,所述底座上侧中心设置有所述工作台,所述工作台上侧中心设置有下导电电极,所述工作台上环侧设置有所述放置台。有益效果在于:本实用新型通过设置的夹紧爪、垫片和气缸,使得装置在对晶体进行测试时,不需要操作人员通过手持机械对晶体进行夹紧固定,降低操作人员疲劳感,避免晶体晃动,保证导电性测试精准性,通过设置的工作台、放置台、齿环、齿轮和旋转电机,使得晶体测试完成后,可以集中收集放置晶体,避免晶体混淆。

基本信息
专利标题 :
一种钴尖晶石晶体的导电测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021197986.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-24
授权号 :
CN212568881U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
章洪营
申请人 :
福州瑞烁光电科技有限公司
申请人地址 :
福建省福州市马尾区快安科技园21#地3号厂房三层(自贸试验区内)
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021197986.3
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R1/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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