本实用新型公开了一种芯片生产用检测装置，属于芯片技术领域，包括检测箱，所述检测箱的内部设置有加热灯、隔板和控制器，所述隔板位于加热灯和控制器之间，所述隔板的上方设置有检测板，所述检测板上开设有安装槽，所述检测箱的前表壁通过转轴转动连接有活动门，所述活动门的前表壁设置有电源开关和调节旋钮，所述调节旋钮位于电源开关的一侧，所述加热灯和调节旋钮均与控制器电性连接，该一种芯片生产用检测装置通过设置加热灯和调节旋钮，加热灯便于将检测箱内部的温度加热，可通过调节旋钮逐步的调节加热灯加热的温度，便于对检测箱内部的芯片进行检测，达到预设温度没有损坏的芯片既合格，检测方便快捷。