本实用新型公开了一种芯片生产用检测装置，包括驱动箱，所述驱动箱的右侧固定连接有第一电机，所述第一电机的转轴贯穿至驱动箱的内腔并固定连接有丝杆，所述丝杆的左端与驱动箱的内壁活动连接，所述丝杆表面两侧的螺纹相反，所述丝杆表面的两侧均螺纹套设有螺纹套，所述螺纹套的顶部固定连接有连接块，所述驱动箱顶部的两侧均开设有长孔。本实用新型具备检测效果好及具有清洁功能的优点，解决了现有的芯片生产用检测装置，在使用过程中，无法对芯片进行夹持旋转，导致不能对芯片的表面进行多方位检测，从而影响检测效果，且由于结构单一，不具有清洁功能，不能对芯片表面的灰尘进行吸尘处理，降低了检测装置适用性的问题。