用于NAND Flash测试电路
授权
摘要
本申请提供了一种用于NAND Flash测试电路，运用于闪存测试技术领域，其测试电路具有母板部和子板部，其中，母板部设于测试母板上，子板部设于测试子板上；母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路，电源电路与电压转换电路连接，电压转换电路分别与单片机主控和母板插针电路连接，单片机主控与数据传输电路连接，数据传输电路与外部PC端连接；子板部包括子板插针电路和芯片座子电路，子板插针电路分别与母板插针电路和芯片座子电路连接；子母板的两板设计简化了测试电路，电压转换电路丰富了测试平台的测试电压，解决了子板可更换而增加测试平台的使用寿命问题，节约了测试成本。
基本信息
专利标题 ：
用于NAND Flash测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021478669.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-22
授权号 ：
CN212365506U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
李斌
申请人 ：
深圳市宏旺微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
代理机构 ：
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
林国友
优先权 ：
CN202021478669.9
主分类号 ：
G11C29/12
IPC分类号 ：
G11C29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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