一种芯片使用寿命检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及检测设备的技术领域，特别是涉及一种芯片使用寿命检测装置，其通过设置此设备，可以使芯片在护罩内进行寿命的检测，避免了芯片在检测时受外界环境的影响从而造成检测数据的误差，同时也提高了对检测设备的减震效果，提高实用性；包括处理箱、中控箱、移动门、第一把手、挡板、四组连接板和四组底板，处理箱顶端设置有检测设备，第一把手安装在移动门前端，挡板安装在护罩前端，并且挡板位于护罩开口左侧，四组连接板分别安装在处理箱底端左前侧、右前侧、左后侧和右后侧，四组底板分别位于四组连接板下方，四组底板顶端均设置有两组弹簧，两组弹簧顶端与连接板底端连接。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片使用寿命检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021849635.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
CN213240413U
授权日 ：
2021-05-18
发明人 ：
刘静吴正
申请人 ：
芯冠（苏州）半导体有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区唯亭双泾街59号
代理机构 ：
苏州睿昊知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
沈彬彬
优先权 ：
CN202021849635.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 F16F15/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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