本实用新型公开了一种集成电路封装成品的检测装置，包括测试台，所述测试台顶部的中部固定安装有探针台，测试台的顶部固定安装有包裹探针台的防尘罩，测试台内部的中部固定连接有隔板，测试台的底部固定安装有移动轮，所述防尘罩的正面通过合页铰接有防尘门，防尘罩一侧的底部与吸尘管的一端固定安装，所述吸尘管的另一端固定安装有集尘袋，所述集尘袋的另一端通过吸尘管与离心风机固定安装，所述离心风机固定安装在测试台内部的后壁上。本实用新型解决了现有的集成电路封装检测装置移动不便，没有防尘措施的问题，通过添加移动轮与防尘罩，使得集成电路封装检测装置可以快捷方便的移动，同时也防止灰尘对集成电路的检测产生影响。