一种北斗芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型属于测试设备技术领域,尤其为一种北斗芯片测试装置,针对现有的测试装置大多缺少运输的功能,从而造成人工运输较为繁琐的问题,现提出如下方案,其包括基座,所述基座的顶部一侧固定安装有竖直杆,竖直杆的外侧顶部转动安装有两个不完全齿轮,两个不完全齿轮的外侧啮合有同一个齿条,齿条滑动安装在竖直杆的外侧,齿条的前侧转动安装有棘爪,竖直杆的外侧转动安装有棘轮,棘爪与棘轮相啮合,基座的顶部转动安装有两个传送轮,两个传送轮上传动连接有同一个传送带。本实用新型通过设置的皮带轮与链轮,从而使得电机驱动的同时带动芯片得到运动的工作,在运输的过程中被检测,从而使得芯片的检测效率增大。
基本信息
专利标题 :
一种北斗芯片测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022102432.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-23
授权号 :
CN213750187U
授权日 :
2021-07-20
发明人 :
勾强
申请人 :
成都福涞科科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市高新区天全路200号2栋2502号、2601号
代理机构 :
成都瑞创华盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
邓瑞
优先权 :
CN202022102432.7
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-07-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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