高密度图案化加工的衬底-掩模板原位保持装置
授权
摘要

本申请涉及一种高密度图案化加工的衬底‑掩模板原位保持装置,包括真空连接台、底座、衬底保持器和掩模板保持器,所述真空连接台设置第一快速插口和气口;所述底座的上端面设置有第一凸台和第一气孔,所述底座连接在所述真空连接台的上端面、且所述第一气孔与所述气口连通;衬底保持器设置保持槽、连接孔和紧固组件;掩模板保持器设置有镂空孔和悬臂,所述悬臂的上端面设置有第二快速插口、下端面设置有第二气孔。如此设置,本装置结构简单,便于操作,在对准操作后即可将衬底和掩模板保持固定,有利于实现高密度阵列结构薄膜器件的高效制备,并在薄膜器件制备各个工艺之间样品的快速转移。

基本信息
专利标题 :
高密度图案化加工的衬底-掩模板原位保持装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022332420.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-19
授权号 :
CN212934585U
授权日 :
2021-04-09
发明人 :
邓元王赫赵未昀张玮峰华小社
申请人 :
北京航空航天大学杭州创新研究院
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区长河街道创慧街18号
代理机构 :
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 :
张雄
优先权 :
CN202022332420.3
主分类号 :
H01L21/683
IPC分类号 :
H01L21/683  H01L21/68  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/683
用于支承或夹紧的
法律状态
2021-04-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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