光谱成像芯片及其制备方法和信息处理方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种光谱成像芯片及其制备方法和信息处理方法。所述光谱成像芯片可以同时获取被摄对象的光谱信息和图像信息。具体地，与传统的图像传感器相比，所述光谱成像芯片可以在不影响所成图像的空间分辨率及成像质量的同时，获得被摄对象的光谱信息，便于掌握待成像对象更全面的信息。而且，由于被摄对象的光谱信息可以用于唯一标识待成像对象，因此可以通过待成像对象的光谱信息实现对待成像对象进行定性或定量分析。
基本信息
专利标题 ：
光谱成像芯片及其制备方法和信息处理方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518168A
申请号 ：
CN202110161799.2
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2021-02-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王宇黄志雷
申请人 ：
北京与光科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区王庄路1号清华同方科技大厦B座707
代理机构 ：
北京唐颂永信知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘伟
优先权 ：
CN202110161799.2
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/28
申请日 : 20210205
申请日 : 20210205
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
