基于光弹性的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种基于光弹性的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，所述方法包括：采用初始偏振光入射待检测材料，并检测初始偏振光经过待检测材料双折射产生的椭圆偏振光的偏振信息，基于偏振信息确定光弹性应力值，并根据光弹性应力值生成应力分布图像，通过深度学习网络，对应力分布图像进行特征提取识别，得到缺陷特征信息，采用本发明可以提高缺陷检测的灵敏度和准确率。
基本信息
专利标题 ：
基于光弹性的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112802003A
申请号 ：
CN202110170546.1
公开（公告）日 ：
2021-05-14
申请日 ：
2021-02-08
授权号 ：
CN112802003B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
何良雨刘彤崔健
申请人 ：
锋睿领创（珠海）科技有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市横琴新区环岛东路1889号创意谷18栋110室-534（集中办公区）
代理机构 ：
深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
姚章国
优先权 ：
CN202110170546.1
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06K9/62 G01L1/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2021-06-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20210208
申请日 : 20210208
2021-05-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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