一种波导器件及其制备方法
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摘要

本发明公开一种波导器件及其制备方法,涉及半导体制造技术领域,以解决在氮化硅薄膜厚度较厚的情况下,在大面积生长氮化硅薄膜时,氮化硅薄膜存在较大的应力,易产生裂纹,从而影响波导器件的性能的技术问题。包括:提供一基底;在第一介质层上形成具有至少一个区域槽的第二介质层。当第二介质层的厚度大于预设厚度时,第二介质层包括多次形成的多个第二子介质层。其中,第二介质层为氮化硅介质层,形成每个第二子介质层均包括:在第一介质层上淀积第二介质材料层,对第二介质材料层依次进行第一图案化处理和热处理,得到第二子介质层,在第二介质层的波导器件区域形成波导结构,得到波导器件。

基本信息
专利标题 :
一种波导器件及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113471656A
申请号 :
CN202110604680.8
公开(公告)日 :
2021-10-01
申请日 :
2021-05-31
授权号 :
CN113471656B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
李彬李志华谢玲李东浩唐波张鹏杨妍刘若男
申请人 :
中国科学院微电子研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路3号
代理机构 :
北京知迪知识产权代理有限公司
代理人 :
王胜利
优先权 :
CN202110604680.8
主分类号 :
H01P11/00
IPC分类号 :
H01P11/00  H01P3/00  
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法律状态
2022-05-06 :
授权
2021-10-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01P 11/00
申请日 : 20210531
2021-10-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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