本申请案涉及存储器装置的裸片上测试。在一些实例中，存储器裸片可包含处理电路系统，其经配置以基于从外部装置接收到的命令或指令执行所述存储器裸片的评估。所述处理电路系统可经配置以检测所述存储器裸片的故障且基于所述裸片上检测将相关指示传输到所述外部装置。在一些实例中，所述处理电路系统可经配置以按比与预期或标称行为相关联的信息更精细的粒度传达故障信息。另外或替代地，所述处理电路系统可经配置以根据内部产生的时钟信号执行操作，所述内部产生的时钟信号以比来自所述外部装置的时钟信号更快的速率或速度操作。在一些实例中，所述处理电路系统可包含用于所述存储器裸片内部的模拟特性的数字通信的模/数转换能力。