载置台、检查装置和检查方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种载置台、检查装置和检查方法。本发明的载置台,其上表面载置处理对象的器件,包括:具有所述器件的载置面的顶板;对所述顶板进行加热的加热单元;多个温度传感器,其在俯视时的所希望的测量位置获取所述顶板的温度;和定位单元,其与所述温度传感器电连接,将所述温度传感器定位在俯视时的所述测量位置,所述定位单元由具有挠性的柔性电路板构成。根据本发明,能够在不降低检查装置中的载置台的构造上的强度的同时,减小检查对象的器件的实际温度与由温度传感器测量的上述器件的测量温度之间产生的差。

基本信息
专利标题 :
载置台、检查装置和检查方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114496838A
申请号 :
CN202111212812.9
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-10-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
河西繁太田智浩
申请人 :
东京毅力科创株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 :
龙淳
优先权 :
CN202111212812.9
主分类号 :
H01L21/67
IPC分类号 :
H01L21/67  H01L21/683  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/67
申请日 : 20211018
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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