基于模糊控制的集成电路测试系统校准方法及装置
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于模糊控制的集成电路测试系统校准方法及装置，其通过建立测试系统校准模型，并基于测试系统的测试程序运行所述校准模型，根据校准装置的预设校准值与测试系统测量值之间的偏差控制矩阵开关切换不同的测试通道，查找偏差在预设误差范围内的最优测量通路；并根据最优测量通路的测量误差，对校准模型的校准参数进行调整，直至其校准结果与预设结果一致，从而保障校准过程的高效性、可靠性以及通用性。
基本信息
专利标题 ：
基于模糊控制的集成电路测试系统校准方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114280524A
申请号 ：
CN202111326200.2
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-11-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙崇钧
申请人 ：
中国船舶重工集团公司第七0九研究所
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园藏龙北路1号
代理机构 ：
武汉河山金堂专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡清堂
优先权 ：
CN202111326200.2
主分类号 ：
G01R35/02
IPC分类号 ：
G01R35/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
G01R35/02
辅助装置的测试或校准，例如根据规定的变换比、相位角或额定瓦数对仪表变压器进行测试或校准
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/02
申请日 : 20211110
申请日 : 20211110
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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