一种集成电路高密度塑封方法
实质审查的生效
摘要

本发明属于塑封技术领域,尤其是一种集成电路高密度塑封方法,针对现有的集成电路塑封模塑封方法是将物料注射到模具内后电路板进行静态塑封,这样极大的降低了工作的效率问题,现提出以下方案,包括放置电路板、封闭模具、注射原料、转动模具、主动降温、塑封完成,其中塑封所需的设备包括箱体,所述箱体内壁顶部设置有上模板。本发明中通过设置横向调节机构将连接机构位置进行调整,从而可以将上模板和下模板连接固定,通过设置供料机构利用进料管向塑封腔内通入塑封原料,拆卸掉供料机构后,通过设置第二电机对固定的上模板和下模板进行转动处理,使塑封原料对电路板进行转动塑封处理,保证了塑封效率。

基本信息
专利标题 :
一种集成电路高密度塑封方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114334680A
申请号 :
CN202111493736.3
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马涛
申请人 :
马涛
申请人地址 :
贵州省毕节市威宁彝族回族苗族自治县麻乍镇吊水社区移民搬迁栋
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111493736.3
主分类号 :
H01L21/56
IPC分类号 :
H01L21/56  B29C45/14  B29C45/34  B29C45/28  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/50
应用H01L21/06至H01L21/326中的任一小组都不包含的方法或设备组装半导体器件的
H01L21/56
封装,例如密封层、涂层
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/56
申请日 : 20211208
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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