等离子体处理装置以及晶圆表面激活方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种等离子体处理装置以及晶圆表面激活方法,等离子体处理装置包括:上壳体、下壳体、第一电极、第二电极以及第一进气管路;其中,下壳体具有进气口,进气口设置于下壳体的侧壁;上壳体和下壳体组合形成等离子体反应腔;第一电极设置于上壳体;第二电极设置于下壳体,且与第一电极相对设置;第一进气管路与进气口连通,用以向等离子体反应腔通入第一反应气体,其中,第一反应气体用于生成等离子体。通过将进气口设置于下壳体,在等离子体处理装置需要拆除上壳体维修保养时,不需要拆除与进气口连接的第一进气管路,进而避免了重新安装的第一进气管路出现气体泄漏,影响产品良率(如晶圆表面崩缺),甚至导致产品报废的情况发生。

基本信息
专利标题 :
等离子体处理装置以及晶圆表面激活方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114446757A
申请号 :
CN202111544764.3
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王瑞磊郭万里周云鹏
申请人 :
武汉新芯集成电路制造有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
代理机构 :
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
任欢欢
优先权 :
CN202111544764.3
主分类号 :
H01J37/32
IPC分类号 :
H01J37/32  H01L21/02  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/32
充气放电管
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 37/32
申请日 : 20211216
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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