本发明涉及光学检测技术领域，公开一种液晶光学片的检测方法及存储介质，以快速地检测液晶光学片在不同电压、不同波长所对应的相位延迟量。方法包括：在被测的液晶光学片旋转定位到光强最大值后，控制主机通过光谱仪获取第一光谱数据，第一光谱数据记录光谱仪对应光强最大值所得出的各波长在各电压所对应的光强数据；在被测的液晶光学片旋转定位到光强最小值后，控制主机通过光谱仪获取第二光谱数据，第二光谱数据记录光谱仪对应光强最小值所得出的各波长在各电压所对应的光强数据；控制主机根据第一线性偏振片与第二线性偏振片之间的夹角并结合第一光谱数据和第二光谱数据得到液晶光学片对各波长和各电压所一一对应的相位延迟量。