集成电路的质量一致性分析方法、装置、设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种集成电路的质量一致性分析方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括：获取待分析集成电路的电性能参数检验数据以及电性能参数检验数据的至少一个评价指标；根据电性能参数检验数据和目标分析方法，得到各评价指标对应的过程能力指数；采用层次分析法确定各评价指标对应的权重系数；根据各评价指标对应的过程能力指数和各评价指标对应的权重系数，得到待分析集成电路的分析结果；分析结果用于表征待分析集成电路的质量一致性评价等级。采用本方法能够具体量化同为合格的集成电路的产品质量一致性。
基本信息
专利标题 ：
集成电路的质量一致性分析方法、装置、设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114331155A
申请号 ：
CN202111656006.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
余永涛陈煜海余俊杰王小强罗军
申请人 ：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址 ：
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
谢曲曲
优先权 ：
CN202111656006.0
主分类号 ：
G06Q10/06
IPC分类号 ：
G06Q10/06 G06Q50/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06Q
专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法；其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
G06Q10/00
行政；管理
G06Q10/06
资源、工作流、人员或项目管理，例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源；企业规划；组织模型
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06Q 10/06
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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