一种3D-SiP芯片测试向量压缩装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种3D‑SiP芯片测试向量压缩装置,包括向量压缩装置和显示屏,还包括固片机构和收存机构,所述固片机构由电路板、凹槽、接触片、螺孔A、压板、螺孔B和压紧螺栓构成,所述向量压缩装置的一侧伸出有电路板,在显示屏下方向量压缩装置的外侧壁处设置有固片机构,向量待压缩芯片可以放入电路板的凹槽内,并使得芯片的引脚与凹槽内的接触片进行对应接触,此时将压板压盖在电路板的表面,使用压紧螺栓从压板的螺孔B处旋入电路板的螺孔A处进行旋接固定,从而压紧芯片,此时芯片可以通过电路板处的接触片与向量压缩装置的控制板进行连接从而方便的进行向量压缩操作。

基本信息
专利标题 :
一种3D-SiP芯片测试向量压缩装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122928374.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-26
授权号 :
CN216696403U
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
罗杰余辉林信吉
申请人 :
浙江恒拓电子科技有限公司
申请人地址 :
浙江省嘉兴市南湖区大桥镇永庆路298号
代理机构 :
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王大国
优先权 :
CN202122928374.8
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-06-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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