本实用新型公开了一种多功能的半导体晶圆表面测量平台，包括底座和测试台，所述测试台的表面设有支撑圆柱，所述底座的表面设有固定杆，所述固定杆的顶端上设有转动环，所述转动环上设有连接块，所述连接块的外表面设有第二夹块，所述连接块的内部设有固定柱和扭簧，所述扭簧的另一端设有挡板，所述固定柱的外侧设有转动柱，所述转动柱的一端设有第一夹块，所述第一夹块的另一端设有稳固块，所述稳固块上设有滑动杆；晶圆位于第一夹块与第二夹块之间，晶圆被限位，将第一夹块与第二夹块翻转，晶圆随之翻转，便于将晶圆翻转过来，增加了晶圆翻转的功能，便于检测晶圆的另一表面。