半导体结构的制作方法及半导体结构
实质审查的生效
摘要

本公开提供了一种半导体结构的制作方法及半导体结构,制作方法包括,提供初始结构,初始结构包括叠层结构,叠层结构包括交替叠置的初始栅间介质层和第一牺牲层,初始栅间介质层包括第一栅介质层、第二牺牲层以及第二栅介质层;在叠层结构中形成沟道槽,沟道槽暴露出部分初始栅间介质层和部分第一牺牲层;在沟道槽中形成沟道结构,沟道结构填充沟道槽;去除第一牺牲层,在第一牺牲层所在的位置形成栅极导电层;去除第二牺牲层,在第一栅介质层和第二栅介质层之间形成气隙层。在本公开中,在半导体结构中的临近的两层栅极导电层之间形成了气隙层,由于空气具有低介电常数,因此,气隙层的存在能够减小栅极导电层之间的电容耦合。

基本信息
专利标题 :
半导体结构的制作方法及半导体结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114361171A
申请号 :
CN202210036332.X
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭帅
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 :
鲁盛楠
优先权 :
CN202210036332.X
主分类号 :
H01L27/11524
IPC分类号 :
H01L27/11524  H01L27/11556  H01L27/1157  H01L27/11582  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27/04
其衬底为半导体的
H01L27/10
在重复结构中包括有多个独立组件的
H01L27/105
包含场效应组件的
H01L27/112
只读存储器结构的
H01L27/115
电动编程只读存储器;其多步骤制造方法
H01L27/11517
具有浮栅的
H01L27/11521
以存储器核心区为特征的
H01L27/11524
具有单元选择晶体管的,例如,NAND
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/11524
申请日 : 20220113
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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