半导体结构制作方法及半导体结构
实质审查的生效
摘要

本发明实施例属于半导体制造技术领域,涉及一种半导体结构制作方法及半导体结构,用于解决的接触垫容易断裂的问题。该半导体结构制作方法包括:在衬底上形成导电层,去除部分导电层以形成由多个接触垫构成的接触结构,每一接触垫与一个衬底上的晶体管结构电连接;在形成接触垫之后,通过干法蚀刻的方式去除接触垫背离衬底的顶端上的残留核心;与湿法蚀刻相比,干法蚀刻具有各向异性,在向衬底的方向蚀刻接触垫时,不会对接触垫侧壁以及接触垫侧壁所在平面的其他膜层造成破坏,也就是说,接触垫与绝缘结构背离衬底的表面之间的导电阻挡层不会被破坏,保证了接触垫与绝缘结构之间的连接力,进而避免接触垫断裂。

基本信息
专利标题 :
半导体结构制作方法及半导体结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114446887A
申请号 :
CN202011217685.7
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-11-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曹新满刘忠明夏军白世杰
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 :
张娜
优先权 :
CN202011217685.7
主分类号 :
H01L21/8242
IPC分类号 :
H01L21/8242  H01L27/108  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70
由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L21/77
在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理
H01L21/78
把衬底连续地分成多个独立的器件
H01L21/82
制造器件,例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/822
衬底是采用硅工艺的半导体的
H01L21/8232
场效应工艺
H01L21/8234
MIS工艺
H01L21/8239
存储器结构
H01L21/8242
动态随机存取存储结构
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/8242
申请日 : 20201104
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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