一种原位电池界面的软X射线荧光吸收谱测试系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种原位电池界面的软X射线荧光吸收谱测试系统及方法，测试系统包括真空腔体，所述真空腔体内设置有调节支架和置放样品的样品台，所述调节支架上设置有硅漂移探测器，所述真空腔体外设置有向真空腔体内的所述样品发射软X射线的同步辐射X射线装置，所述硅漂移探测器采集所述样品的XRF荧光发射谱并将其传输至设置在真空腔体外的光谱处理装置。本发明的系统通过向样品发射变能量的同步辐射软X射线，并收集XRF荧光发射谱，从而可在量子点制备的原位过程中，对TiO2/量子点界面的化学结构，包括化学价态，杂质态，电子结构等进行实时研究。
基本信息
专利标题 ：
一种原位电池界面的软X射线荧光吸收谱测试系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486969A
申请号 ：
CN202210044867.1
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈振华李俊琴王勇
申请人 ：
中国科学院上海高等研究院
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
邓琪
优先权 ：
CN202210044867.1
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20220114
申请日 : 20220114
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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