一种体散射缺陷检测设备及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种体散射缺陷检测设备及方法,该设备通过照明系统输出传输方向相互垂直且光束输出面平行于目标光学元件表面的第一探测光束和第二探测光束,并使得第一探测光束和第二探测光束入射到目标光学元件内,在目标光学元件内一区域处交汇形成厚度与显微镜头景深一致的体照明区域,然后通过显微成像系统对该体照明区域的散射光进行成像,得到目标光学元件的缺陷图像,以解析出目标光学元件内的体散射缺陷分布。该方案可以使得镜头景深以外的缺陷不被照亮,消除体散射检测成像结果中的离焦虚像,从而提高体散射缺陷识别结果的准确性。
基本信息
专利标题 :
一种体散射缺陷检测设备及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486911A
申请号 :
CN202210049576.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
石兆华黄进王凤蕊刘东程邢磊王狮凌钱常德邓青华
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心;浙江大学
申请人地址 :
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 :
北京众达德权知识产权代理有限公司
代理人 :
李娇
优先权 :
CN202210049576.1
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88 G01N21/47 G02B21/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20220117
申请日 : 20220117
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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