多轴联动复合测量系统及微零件全轮廓自动化测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种多轴联动复合测量系统及微零件全轮廓自动化测量方法,所述方法包括:S1、对初步测量子系统和精细测量子系统进行耦合标定,生成坐标变换矩阵;S2、利用初步测量子系统对待测微零件进行测量,生成第一测量结果;S3、根据第一测量结果解算待测微零件初始位姿,通过坐标变换矩阵将待测微零件初始位姿标定至精细测量子系统;S4、获取待测微零件表面的若干采样点坐标,精细测量子系统以初始位姿为基准,对采样点坐标进行排序生成测量路径。本发明采用低精度大视场测量子系统对待测微零件位姿进行预认知,并依此生成高精度测量路径,提高了在全轮廓中,精确测量路径获取的效率。
基本信息
专利标题 :
多轴联动复合测量系统及微零件全轮廓自动化测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485468A
申请号 :
CN202210104747.6
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张效栋刘磊
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
天津市南开区卫津路92号
代理机构 :
北京沁优知识产权代理有限公司
代理人 :
郭衍飞
优先权 :
CN202210104747.6
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20220128
申请日 : 20220128
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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